NSF中心
为纳米和微
污染控制

伊根研究中心

raybet雷竞技
亨廷顿大街360号
02115年波士顿

电话:617.373.6012
传真:617.373.3266

研究

我们的研究集中在基础表面清理和准备:

  • 使用megasonics了解物理和化学清洗机制,刷子和其他技术,包括损伤评估和缓解
  • CMP和Post-CMP应用程序
  • 清洁的EUV分划板
  • 测量粒子粘附力
  • 的纳米粒子
  • 激光冲击清洁
  • 高浓度臭氧清洗
  • 超临界二氧化碳清洗
  • 粒子生成、传输和沉积:
  • 微粒污染低压流程(LPCVD、溅射、离子植入,等等)。
  • 在晶圆污染处理

报告存档

微观研究中心报告2007

IUCRC描述的缺陷

IUCRC清洁的战壕

IUCRC污染运输

IUCRC_Mechanics CMP和Post-CMP

IUCRC搅拌气分析仪

除IUCRC纳米粒子

IUCRC Post-CMP粘附去除

技术转让的演讲

建议存档

NSF IUCRC提议

二氧化碳清洗方案

CMP和Post-CMO清洁的机制

发现和描述的技术缺陷和污染物

开发一个基于MEMs微气体分析系统

为Post-CMP应用粒子粘附和删除

纳米和微尺度粒子去除

亚微米的物理清洗战壕,建模研究

薄膜沉积过程中污染物的运输